Set di test del supporto della scheda SIM JCID V1S Pro V1SE per iPhone 5-16 Android SIM + TF Card 1. Set di test del supporto della scheda SIM, master di rilevamento rapido, diagnosi senza preoccupazioni 2. Rilevamento rapido con un solo tasto, nessuna necessità di smontaggio, plug and play, nessun processo noioso 3. Visualizza i risultati dei test nell'interfaccia grafica, corrispondenti alle sonde di contatto del titolare della carta in modo accurato, efficiente e intuitivo 4. Modalità di smontaggio senza avvio, consentono il rilevamento della funzione SIM durante l'avvio e rilevano il valore del diodo senza smontaggio 5. Compatibile con più modelli di telefono, soddisfa varie esigenze di test, funzioni potenti, compatibilità senza preoccupazioni, perfettamente compatibile con il portacarte ultrasottile della serie 15, fornendo una solida garanzia per la resa dopo la modifica della carta 6. Qualità squisita, durata eccellente, adottare il processo ENIG, durezza superiore, non facile da indossare, anti piegatura e stabile, robusto e durevole 7. Integrare il design di protezione a tutto tondo dell'interfaccia FPC e la funzione di scansione automatica della posizione delle sonde, nessuna bruciatura quando si inseriscono le schede in modo opposto 8. Supporto di comunicazione universale, supporto IOS singola e doppia SIM, rilevamento simultaneo di schede SIM Android e TF