ESD: Failure Mechanisms and Models

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ESD: meccanismi e modelli di guasto

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Descrizione

ESD: Failure Mechanisms and Models

Fornisce un'analisi completa dei meccanismi di guasto ESD in un'ampia gamma di dispositivi, circuiti e applicazioni basati su materiali semiconduttori. Illustra metodi per eliminare i meccanismi di guasto attraverso soluzioni circuitali praticabili, inclusi esempi pratici di difetti di guasto.
  • Marchio: John Wiley & Sons Inc
  • Categoria: Scienza, medicina e natura
  • Autore: Steven H. Voldman (IEEE Fellow Vermont USA)
  • Numero di pagine: 408
  • Casa editrice/Casa discografica: John Wiley & Sons Inc
  • Data di pubblicazione: 2025-02-10
  • Lingua: Inglese
  • Formato: Edizione rilegata
  • ID Fruugo: 434360967-911568296
  • ISBN: 9780470511374

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