Gli errori soft sono un problema multiforme all'incrocio tra la fisica applicata e le scienze ingegneristiche. I soft error sono, per natura, problemi multiscala e multifisici che combinano non solo fisica nucleare e dei semiconduttori, scienze dei materiali, progettazione di circuiti e architettura e funzionamento dei chip, ma anche fisica dei raggi cosmici, problemi di radioattività naturale, rilevamento di particelle e relativa strumentazione. Soft Errors: From Particles to Circuits affronta il problema degli errori soft nei circuiti integrati digitali soggetti all'ambiente di radiazione naturale terrestre, uno dei limiti primari più importanti per l'affidabilità dell'elettronica digitale moderna. Coprendo i fondamenti degli errori soft, nonché le considerazioni ingegneristiche e gli aspetti tecnologici, questo testo robusto: Discute le basi dell'ambiente di radiazione naturale, le interazioni delle particelle con la materia e i meccanismi di errore soft Dettagli, gli sviluppi della strumentazione nei campi della caratterizzazione dell'ambiente, il rilevamento di particelle e i test in tempo reale e accelerati Descrive le ultime novità Strategie di modellazione e simulazione degli sviluppi computazionali per la stima del tasso di errore soft nei circuiti digitali Esplora le tendenze per i futuri nodi tecnologici e dispositivi emergenti Soft Errors: From Particles to Circuits presenta lo stato dell'arte di questo complesso argomento fornendo una conoscenza completa della catena completa della fisica degli errori soft. Il libro è un testo ideale per i corsi introduttivi di livello universitario, offre ai ricercatori accademici una panoramica specializzata e funge da guida pratica per gli ingegneri dell'industria dei semiconduttori o per gli ingegneri delle applicazioni. . Lingua: Inglese