Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
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Descrizione
Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
- Marchio: Unbranded
- Categoria: Educazione
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Numero di pagine: 306
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Casa editrice/Casa discografica: Springer
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Data di pubblicazione: 2012/03/18
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Lingua: Inglese
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Artista: Ruijing Shen
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Formato: Edizione rilegata
- ID Fruugo: 343662076-752843088
- ISBN: 9781461407874
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